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高溫低電阻測(cè)試儀選型需要注意哪些?

更新時(shí)間:2024-01-08      點(diǎn)擊次數(shù):559


高溫低電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)介



一、高溫低電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)介

高溫低電阻測(cè)試儀器采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度  芯片控 AD制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備 英寸觸摸屏,  10軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器可顯示電阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。

目前國(guó)內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐,原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱,加熱與降溫速度慢,效率低下,這種方式也易存在感應(yīng)電流,無(wú)法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測(cè)量,也加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象,本設(shè)備在高速加熱高速冷卻時(shí),具有良好的溫度分布。  可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,用石英管保護(hù)加熱式樣,無(wú)氣氛污染??稍诟哒婵?,高出純度氣體中加熱  。大大提高精確度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途.

Labview hcpro 系統(tǒng)搭配 系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的 軟件,具備彈性的自定義功能,可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置,符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。


華測(cè)公司為國(guó)內(nèi)一家針對(duì)新材料電性能檢測(cè)儀器全系列廠家。

高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測(cè)試。

高溫低電阻測(cè)試儀可實(shí)現(xiàn)小于±0 .25 ℃溫 度測(cè)量誤差(限反射爐)。


二、高溫低電阻測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)

1、整體為桌面型設(shè)計(jì),采用紅外燈加熱,無(wú)保溫爐膛結(jié)構(gòu),滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室無(wú)灰塵排放的要求。

2、內(nèi)置工控機(jī)、觸摸屏,可以利用工控機(jī)設(shè)定加熱曲線,并實(shí)現(xiàn)和其他測(cè)試設(shè)備的集成控制。

3、定點(diǎn)控溫模式下,可以將樣品 1 0s內(nèi)加熱到 1000攝氏度。

4、控溫加熱下,可以5度/s 速率下線性加熱到1000 攝氏度。

5、在1000度下可以連續(xù)工作時(shí)間不低于1 小時(shí)。

6、采用鉑銠熱電偶直接測(cè)定樣品附近溫度。

7、樣品可以工作在大氣、真空、氣氛環(huán)境下加熱。

8、配備真空泵,水冷設(shè)備,配備超溫、缺水、過(guò)流等報(bào)警保護(hù)裝置。

9、溫度均勻區(qū):60 m m *1 0 0m m。

10、公司開(kāi)發(fā)的高溫低電阻測(cè)試系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具與keithley(吉時(shí)利)系列、2400、 2450、 2600  系列源表測(cè)量設(shè)備無(wú)縫連接。


三、高溫低電阻測(cè)試儀硬件配置:

█ 集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器

█ 集成打機(jī)印接口,可擴(kuò)充8 個(gè) USB 接口

█ 支持16G 內(nèi)存, 60G固態(tài)硬盤(pán),讓系統(tǒng)運(yùn)行更加流暢

軟件功能:

測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)Huacepro labview ,采用labview 系統(tǒng)開(kāi)發(fā),符合絕緣材料的各項(xiàng)測(cè)試需求,具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。支持*新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),兼容XP 、win7  、 win10系統(tǒng)。

█ 多語(yǔ)介面:支持中文/英文 兩種語(yǔ)言界面;

█ 即時(shí)監(jiān)控:系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽,無(wú)須等待;

█ 圖例管理:通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明,了解測(cè)試狀態(tài);

█ 使用權(quán)限:可設(shè)定使用者的權(quán)限,方便管理;

█ 故障狀態(tài):軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。


四、產(chǎn)品特點(diǎn):

1、高速加熱與冷卻方式

高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng),增設(shè)氣體冷卻裝置,可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。

2、溫度高精度控制

過(guò)紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用,可以精確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外,冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。

3、不同環(huán)境下的加熱與冷卻

加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫(高純度惰性氣體,靜態(tài)或流動(dòng)),操作簡(jiǎn)單,使用石英玻璃制成。紅外線 可傳送到加熱/冷卻室。


五、高溫低電阻測(cè)試儀產(chǎn)品應(yīng)用:

█ 多晶硅材料

█ 石墨功能材料

█ 導(dǎo)電功能薄膜材料

█ 導(dǎo) 電玻璃(ito )材料

█ 石墨烯材料

█ 半導(dǎo)體材料

█ 鍺類(lèi)功能材料

█  柔性透明 導(dǎo)電薄膜

█ 其它導(dǎo)電材料等


六、功能特點(diǎn):

█ 多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試

█ 采用鉑材料作為導(dǎo)線、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度;

█ 可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;

█ 可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測(cè)量功能;

█ 進(jìn)口溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制,使測(cè)量溫度更精準(zhǔn);

█ 儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv;

█ 10寸進(jìn)口觸摸屏設(shè)計(jì),一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu),更加穩(wěn)定、可靠;

█ 程控電子升壓技術(shù),紋波更低、TVS防護(hù)系統(tǒng),保證儀器安全性;

█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

█ huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件。


七、技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍:室溫-1000℃, (反射爐加溫 )配水冷機(jī);

2、控溫精度:(溫控國(guó)內(nèi)*高) ±0 5℃ ;

3、測(cè)量精度: ± 0.25℃;

4、升溫斜率:20℃/min (可設(shè)定);

5、降溫斜率:  1-200℃/min ( 自調(diào)整);

6、測(cè)量精度:0.5%;

7、樣品規(guī)格:直徑: 20mm 以?xún)?nèi);厚度: 5mm以?xún)?nèi);

8、電極材料:鉑金;

9、測(cè)量方式:2 線- 4線測(cè)量方式;

10、測(cè)量范圍: 0.1uΩ- 100MΩ

11、供 電:220V±10%,50Hz;

12、工作環(huán)境:0℃ - 55℃;

13、存儲(chǔ)條件:- 40℃-70℃;

14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;

15、重 量: kg 25


產(chǎn)品型號(hào)

溫度范圍

設(shè)備功能

Huace-901

室溫-800C°

單組試樣;片狀樣品;四探針?lè)ǎ槐∧せ虮∑瑺顦悠?;真空、氣氛環(huán)境

Huace-902

室溫-1200C°

單組試樣;片狀樣品;四探針?lè)?;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境

Huace-903

室溫-1450C°

單組試樣;片狀樣品;四探針?lè)?;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境









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