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功能材料測(cè)試儀器

傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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HCYD-800華測(cè)壓電材料居里溫度測(cè)試儀機(jī)電耦合系數(shù)

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型號(hào)：HCYD-800

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華測(cè)壓電材料居里溫度測(cè)試儀機(jī)電耦合系數(shù)可以分析被測(cè)樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時(shí)間變化的曲線。通過(guò)軟件將這些變化曲線的溫度譜、時(shí)間譜等集成一體并進(jìn)行分析測(cè)量并可以直接得出樣品的壓電溫譜圖。對(duì)試樣大小及形狀無(wú)特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，可廣泛用于鐵電、壓電材料（壓電陶瓷、高分子）以及相關(guān)器件的評(píng)價(jià)與測(cè)試。
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HPZT-200壓電材料居里溫度測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HPZT-200

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HCGL-1000華測(cè)高溫管式爐測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-09

型號(hào)：HCGL-1000

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華測(cè)高溫管式爐測(cè)試儀可以勻速、階梯（升\降溫）、循環(huán)沖擊，真空、氣氛等多種的加熱方式，采用全電子控制技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)控制精度波動(dòng)0.5°C以內(nèi)，溫控精度之高。加熱速度之快，同時(shí)它可以提供了材料的多的性測(cè)試環(huán)境。
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HCGL-1000高溫管式爐測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-09

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HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測(cè)*四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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醫(yī)用耐壓測(cè)試儀系列

更新時(shí)間：2023-08-21

型號(hào)：

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HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCTZ-2S

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HCTZ-2S北京華測(cè)試驗(yàn)儀器四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
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HCTD-800HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：HCTD-800

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HCTD高溫鐵電測(cè)試儀/參數(shù)分析儀用于鐵電體的鐵電測(cè)量，。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
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