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改性塑料試驗(yàn)設(shè)備

電壓擊穿試驗(yàn)儀耐電弧測(cè)試儀絕緣電阻試驗(yàn)儀電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng) 高壓、低壓漏電起痕試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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固體絕緣材料工頻電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-06-03

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華測(cè)固體絕緣材料工頻電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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陶瓷耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-100KV

更新時(shí)間：2024-12-12

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華測(cè)計(jì)算機(jī)控制陶瓷耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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樹脂、絕緣漆電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-100KV

更新時(shí)間：2024-12-12

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華測(cè)樹脂、絕緣漆電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀 HCDJC-100KV

更新時(shí)間：2024-12-12

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瀏覽量：1061

絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀 HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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陶瓷玻璃耐電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-100KV

更新時(shí)間：2024-12-12

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華測(cè)計(jì)算機(jī)控制陶瓷玻璃耐電壓擊穿試驗(yàn)儀HCDJC-100KV滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法　第1部分；工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。
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HCRD-300華測(cè)薄膜擊穿電弱點(diǎn)測(cè)試儀器--鋰電池隔膜

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

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華測(cè)薄膜擊穿電弱點(diǎn)測(cè)試儀器--鋰電池隔膜，該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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多重保護(hù)功能、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：

瀏覽量：1458

多重保護(hù)功能、電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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HCRD-300電弱點(diǎn)測(cè)試儀器高壓試驗(yàn)裝置

更新時(shí)間：2024-12-16

型號(hào)：HCRD-300

瀏覽量：1600

電弱點(diǎn)測(cè)試儀器高壓試驗(yàn)裝置：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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