鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針臺

Huace FE-3000

   可擴(kuò)展型  鐵電分析儀/陶瓷壓電產(chǎn)品介紹：

Huace FE系列鐵電測試系統(tǒng)是目前市場上較xianjin的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測試電壓范圍并且在世界鐵電測試領(lǐng)域高測試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測試軟件。

 儀器配置：

Huace FE系列鐵電測試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下，電滯回線測試頻率可高達(dá)500KHz；此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或以上)、RAM(8G 或以上)、固態(tài)硬盤(250G 或以上)、網(wǎng)卡、USB 接口、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電專用測試軟件等。

可擴(kuò)展部件：

可與高低溫冷熱臺、高溫測試裝置、探針臺、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。

? 塊體測試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測試可擴(kuò)展變溫功能。

? 薄膜四探針探針臺：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測試。

? 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測試。

? 薄膜探針臺（國產(chǎn)）：室溫鐵電測試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測試。

  技術(shù)參數(shù)：

?內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) ：±10V （可外接不同型號放大器）

?可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

?ADC位數(shù)：18位

?zui小電荷分辨率：<10fC

?zui大電荷分辨率：27.6mC

?zui小面積分辨率：<1μ2

?zui大面積分辨率：＞100cm2

?zui大電滯回線測試頻率：270KHz @10V

?zuidi測試頻率：0.03Hz

?zui小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us

?zui小脈沖上升時間(5V)(此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：400ns

?zui大脈沖寬度：1s

?脈沖間最大延遲時間：40ks

?內(nèi)部時鐘：25ns

?zui小的泄漏電流 ：<1pA

?zui大小信號上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz

?zui小小信號上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz

?輸出上升時間控制：103 scaling

?輸入電容：~60fF

?阻抗輸入：Yes

鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無縫切換。為用戶降低成本。

█ 介電測試分析模塊

█ 熱激發(fā)極化電流測試TSDC

█ 擊穿電壓測試

█ 高壓極化

█ 絕緣電阻測試

█ 四探針測試

█ 壓電性能測試

█ 鐵電參數(shù)測試

█ 熱釋電性能測試

█ 居里溫度測試