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  • 低壓漏電起痕/絕緣材料測試儀
    低壓漏電起痕/絕緣材料測試儀

    更新時間:2024-12-19

    型號:

    瀏覽量:1411

    低壓漏電起痕/絕緣材料測試儀是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸(2mm×5mm)的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(30S)定高度(35mm)滴下規(guī)定液滴體積的污染液體(0.1%NH4CL),用以評價固體絕緣材料表面在電場和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力,測定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)。
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  • Huace1200G華測高溫絕緣電阻測試儀
    Huace1200G華測高溫絕緣電阻測試儀

    更新時間:2023-12-01

    型號:Huace1200G

    瀏覽量:1383

    華測高溫絕緣電阻測試儀采用自主開發(fā)的電子保護(hù)系統(tǒng),提高了設(shè)備的an全性;配備電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。
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  • HCRD-300薄膜電弱點(diǎn)測試儀器
    HCRD-300薄膜電弱點(diǎn)測試儀器

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

    瀏覽量:1372

    薄膜電弱點(diǎn)測試儀器通過人機(jī)對話方式,本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分:試驗方法及其第1次修正(2001)和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設(shè)計的高壓試驗裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。
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  • HCWP-1000高溫新材料檢測—高溫介電溫譜儀測試系統(tǒng)
    HCWP-1000高溫新材料檢測—高溫介電溫譜儀測試系統(tǒng)

    更新時間:2024-06-04

    型號:HCWP-1000

    瀏覽量:2846

    高溫新材料檢測—高溫介電溫譜儀測試系統(tǒng)從專業(yè)角度來說,其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試。
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  • Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/其他
    Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/其他

    更新時間:2024-06-04

    型號:Huace-DCS10KV

    瀏覽量:1831

    電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)/其他采用特殊高壓開關(guān),通過單刀雙擲控制充電和放電過程,開關(guān)可以承受10kV高壓,寄生電容小,動作時間短。
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  • HCNDH-4耐電弧測試儀
    HCNDH-4耐電弧測試儀

    更新時間:2024-08-30

    型號:HCNDH-4

    瀏覽量:1917

    耐電弧測試儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力,通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時間表示,單位是秒。
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  • HCRD-300計算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測試儀
    HCRD-300計算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測試儀

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

    瀏覽量:1543

    計算機(jī)控制儀器——電弱點(diǎn)測試儀,通過人機(jī)對話方式,本產(chǎn)品是根據(jù)IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜 第2部分:試驗方法及其第1次修正(2001)和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設(shè)計的高壓試驗裝置。主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。
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  • HCWP-1000介電溫譜測試儀高溫爐膛阻抗分析儀測試夾具
    HCWP-1000介電溫譜測試儀高溫爐膛阻抗分析儀測試夾具

    更新時間:2024-12-08

    型號:HCWP-1000

    瀏覽量:2478

    介電溫譜測試儀高溫爐膛阻抗分析儀測試夾具,為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測量需求而設(shè)計的。從專業(yè)角度來說,其實就是高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體.
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