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  • HCWP-1000高溫介電溫譜儀/絕緣電阻
    HCWP-1000高溫介電溫譜儀/絕緣電阻

    更新時間:2024-08-01

    型號:HCWP-1000

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    本高溫介電溫譜儀/絕緣電阻主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測試軟件于一體,可測試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù)等,同時可分析被測樣品隨溫度,頻率,時間變化的曲線,測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購。
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  • HCDH-3華測一體式耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-3華測一體式耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCDH-3

    瀏覽量:3067

    華測一體式耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣 材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、 絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度 和耐電壓時間的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗(yàn)方法》IEC 61621及ASTM D495設(shè)計(jì)、制造的
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCDH-4

    瀏覽量:1712

    硅橡膠耐電弧試驗(yàn)儀*是根據(jù) GB/T 1411-2002《固體絕緣材料耐高壓低電流電弧放電的試驗(yàn)》(等同 IEC 61621-1997)及 ASTM D495 等標(biāo)準(zhǔn)的要求設(shè)計(jì)制造的,并符合 IEC 149、UL 746A 等試驗(yàn)方法。本儀器由絕緣標(biāo)準(zhǔn)制定單位全國絕緣材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會監(jiān)制。主要用于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆
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  • HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測試儀器
    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測試儀器

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCDH-4

    瀏覽量:1366

    HCDH-4硅橡膠耐電弧試驗(yàn)測試儀器是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCDH-4北京華測耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH-4北京華測耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCDH-4

    瀏覽量:2494

    HCDH-4北京華測耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCDH -4耐電弧試驗(yàn)儀
    HCDH -4耐電弧試驗(yàn)儀

    更新時間:2024-12-12

    型號:HCDH -4

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    HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測試而開發(fā)的高精密設(shè)備,適于用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在高電壓小電流條件下的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)研究等用途。
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  • HCWP-S高低溫介電溫譜測試儀器
    HCWP-S高低溫介電溫譜測試儀器

    更新時間:2024-12-08

    型號:HCWP-S

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    高低溫介電溫譜測試儀器適用于鐵電壓電陶瓷材料、各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。 用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、因數(shù)Q等物理量。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料的應(yīng)用研究科研機(jī)關(guān)、高校、工廠等地方。
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  • HCRD-300電弱點(diǎn)測試儀器
    HCRD-300電弱點(diǎn)測試儀器

    更新時間:2024-12-16

    型號:HCRD-300

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    電弱點(diǎn)測試儀器主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測試。該系列產(chǎn)品的主要特點(diǎn)是能根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。
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